Allgemeine Informationen
Bei den LVDT-Wegaufnehmern der Serie DC-EC von Schaevitz handelt es sich um die Nachfolgeserie der populären DC-E Serie, jedoch entwickelt gemäß den europäischen CE-Vorschriften für industrielle Anwen-dungen. Der wesentliche Unterschied besteht im elektrischen Anschluss, der jetzt über ein abgeschirmtes, 1 m langes Kabel erfolgt. Die LVDT-Wegaufnehmer der Serie DE-EC enthalten einen neu entwickelten, monolithischen Schaltkreis, der zusammen mit einem computer-optimierten Wickelverfahren für höchste Leistung sorgt. Die Linearitätsabweichung ist mit kleiner als 0,25 % vom Messbereich spezifiziert. Auf Grund der ratiometrischen Arbeitsweise sind die Aufnehmer sehr unempfindlich gegenüber Spannungs- und Temperaturschwankungen. Weitere Besonderheiten sind die ausgezeichnete Dynamik und das sehr niedrige Ausgangsrauschen. Durch Vakuum-Verkapselung sind die Sensoren unempfindlich gegen Schock, Vibration und andere mechanische Einflüsse. Sie sind leicht zu installieren und erlauben hochgenaue Messungen, auch bei Einsätzen, wo bisher nur AC-LVDTs mit aufwendiger, getrennter Elektronik verwendet werden konnten.
Option unverlierbarer Kern
Für die Wegsensoren der Serie DE-EC wird die Option „unverlierbarer Kern” angeboten, mit der die Montage des Wegaufnehmers erheblich vereinfacht wird. Dabei wird der Sensorkern direkt mit einer Schubstange mit Anschlussgewinde verbunden. Die Schubstange besitzt ein selbstausrichtendes Bronzegleitlager. Durch eine PTFE-Hülse wird sie reibungsarm durch die Edelstahlbohrung des Gebers geführt. Schubstange und Lager sind im Reparaturfall vor Ort austauschbar.
Eigenschaften
- Messbereiche ±1,27 mm bis ±254 mm
- Linearitätsabweichung 0,25 %
- Ausgang ±10 V
- Versorgungsspannung ±15 VDC
- Verpolungsschutz
- Doppelte magnetischen Abschirmung
- Bi-polarer DC-Betrieb
- Schock- und vibrationstolerant
- Option unverlierbarer Kern
- Edelstahlgehäuse AISI 400
- CE
- Individuelles Kalibrierzertifika
Anwendungen
- Materialprüfung
- Z-Achsen-Positionsfeedback bei Stanzmaschinen
- XY-Lagesteuerung bei Mikroskopen
- Medizinische Bildgebungsverfahren
- Federsystemprüfung in der Automobilindustrie
- Flugsimulatoren
