750-200 Ultrapräzises 2-axiales Neigungsmessgerät (Black Diamond)

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Eigenschaften

• ±1° bis ±90° Eingabe Vollbereich
• Auflösung im Mikroradius
• Interner Temperatursensor verfügbar
• Hochwertiger 0-5 Vdc Ausgang
• Hervorragende 0°-Ausgangsstabilität über die Temperatur
• Ausgang mit niedriger Impedanz

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Allgemeine Informationen

A750-200 & C750-200 Serie – Black Diamond Dual-Axis Inklinometer für präzise Neigungsmessung (0–5 V oder 4–20 mA)

Die A750-200 und C750-200 aus der Black Diamond Tiltmeter-Serie sind flüssigkeitsgedämpfte, zweiachsige (X/Y) Präzisions-Inklinometer für zuverlässige Neigungsmessungen in anspruchsvollen Industrie- und Monitoring-Anwendungen. Die Sensoren basieren auf Jewells robuster, flüssigkeitsgedämpfter Servo-/Flexure-Technologie und wurden als kompakte Dual-Axis-Lösung für hohe Genauigkeit und sehr gute Wiederholbarkeit entwickelt.

A750-200 und C750-200 – der Unterschied

• A750-200: 0–5 VDC High-Level-Ausgang für klassische Spannungsintegration.
• C750-200: gleiche Performance wie A750-200, jedoch mit 4–20 mA Ausgangssignal – ideal für lange Kabelwege (z. B. Plattform-/Radar-Leveling und geotechnisches Monitoring).

Vorteile auf einen Blick

• Dual-Axis Tiltmeter (X/Y) mit Mikroradian-Auflösung (Resolution/Threshold 1 µrad)
• Messbereiche: ±1° bis ±90° (je nach Variante)
• Sehr stabile 0°-Ausgabe über Temperatur (für zuverlässige Referenzmessungen)
• Optionen: Flanschfuß, metrische Gewinde, interner Temperatursensor
• RoHS-Option verfügbar

Typische Anwendungen

• Radar- & Antennen-Leveling
• Structural Monitoring (Bauwerke/Anlagen)
• Seismisches Monitoring
• Plattform-Leveling
• Labor-Tests & Forschung

Technischer Kurzüberblick

• A750-200 Versorgung: ±9 bis ±18 VDC
• C750-200 (für Stromausgang) Versorgung: +20 bis +30 VDC
• Auflösung/Threshold: 1 µrad

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